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平方和（）科技申请一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统，可快速、高效地完成对隐形眼镜的全面检测:隐形眼镜
金融界2025年7月26日消息，国家知识信息显示，平方和（）科技有限公司申请一项名为“一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统”的，公开号CN120374539A，申请日期为2025年0
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金融界2025年7月26日消息，国家知识信息显示，平方和（）科技有限公司申请一项名为“一种基于凸缺陷的隐形眼镜印刷区污渍高精度检测方法及系统”的，公开号CN120374539A，申请日期为2025年0